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粗糙度儀測量平臺

簡要描述：

粗糙度儀測量平臺：粗糙度儀配件絲桿升降平臺設有V型槽，用于精確測量小工件。平臺材質為花崗巖，精度00級，大小尺寸不同，升降高度可調。微調平臺X-Y平面轉角可調，旋轉角度有粗調和微調兩種范圍。

更新時間：2024-06-20

訪問量：1253

廠商性質：代理商

生產地址：寧波

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產品介紹：

品牌	其他品牌	產地類別	國產
應用領域	綜合

粗糙度儀配件絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量精度。

TIME®3220T測量平臺

ETA620測量平臺

絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量精度。

花崗巖平臺工作面精度：00級(平面公差值3μm ）

花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm

垂直升降高度：300±1mm

升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈

粗糙度儀測量平臺

ETA650測量平臺

垂直方向上的升降高度：300±1mm(微調由儀器上的可調支架完成)

垂直方向上的旋轉角度：±45

回程誤差：不大于手輪的1/6圈

平臺的平面度：00級

花崗巖平臺尺寸：600mm×420mm×80 mm

總高度：695mm

粗糙度儀測量平臺

TA631微調平臺

X—Y平面轉角。

調整范圍：X向±12.5mm Y向±12.5mm

旋轉角度：粗調 360　　微調±5

粗糙度儀測量平臺

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